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產品簡介
根據X射線熒光(XRF)的鍍層厚度量測,是一種被廣泛接受和業界認可的分析技術,方便、快速的非破壞性分析。無需(或極少)的樣品前製,能夠廣泛分析固、液態原子序13(Al)~92(U)。 具有卓越的分辨率和高效率SDD的MAXXI 6是在測量痕量薄鍍層和元素組成的理想儀器。 -
主要特點
* 高精度微聚焦鈹窗口X射線管,測量時間短與高可靠性的現場驗證,卓越的產品壽命
和更低的擁有成本
* 採用極高分辨率矽漂移檢測器(SDD)使檢測極限(LOD)大幅增進
* 多準直器依照不同需求自由切換,提高測量效率
* 開槽式設計且具有極大的內部空間,非常適合標準和超大樣品
* 單一USB連接電腦,無需額外的硬體或固件
* 德國最高工程標準製造
* 堅固的硬體設計
* 由PTB(慕尼黑物理技術)批准,確保最高水平的輻射安全
* X射線熒光技術新進展,允許直接測量化學鍍鎳的鎳磷比例
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