XRF螢光光譜分析/鑫知識文章三十一、晶片大戰，台灣、日本、韓國半導體近代史概述
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在亞洲國家中，只要提到科技產業代表，台灣、日本、韓國這三個國家往往都會是新聞爭相報導的代表國家。日本的智能機器人與智慧科技產品；韓國的三星手機、晶片；台灣的半導體、晶圓可說是家喻戶曉的當今科技產業主題，今天我們就來簡單聊聊關於這三國演義的半導體近代史。
文章三十一、晶片大戰，台灣、日本、韓國半導體近代史概述
在亞洲國家中，只要提到科技產業代表，台灣、日本、韓國這三個國家往往都會是新聞爭相報導的代表國家。日本的智能機器人與智慧科技產品；韓國的三星手機、晶片；台灣的半導體、晶圓可說是家喻戶曉的當今科技產業主題，今天我們就來簡單聊聊關於這三國演義的半導體近代史。
韓國South Korea－
日本 Japan－
台灣 Taiwan－
面臨來自亞洲鄰國的壓力，以及世界大國如，美國、中國的強勢崛起，半導體產業又將迎來一場激烈的王位爭奪戰，除了挑戰更高端的製成、更微距的空間需要做更多的排列鍍層應用，直接考驗了我國半導體產業鏈是否具備對應的市場競爭力。
因應更為要求品質與精度的高科技產業鏈需求，鑫紳提供多元的膜厚鍍層分析檢測儀。採用來自日本的高端應用製成技術，使即便是進入奈米紀元的半導體製造業仍可以精準分析。
鑫紳代理的Hitachi X-Strata 920桌上型膜厚檢測儀，以及更為進階的多導毛細管準直儀（SDD)，效果更勝傳統的膜厚檢測儀，可以提供給客戶更好的測量成果，也因應日新月異的半導體製程產業鏈。
鑫紳代理的膜厚檢測儀與XRF元素分析儀具備的優勢：
1. 高階可分析至奈米單位的鍍層分析。
2. 更小的光斑，更精準。(高階多導毛細管光學系統可將X光束聚焦到15 µmFWHM)
3. 直觀的操作介面。
4. 非常短的測量時間，提高工作效率。
5. 維修方便、降低停機耗損。
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