XRF螢光光譜分析/鑫知識文章四十八、回顧古今-X射線、X光譜學應用在科技產業的演變
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X射線是由德國物理學家Wilhelm Rontgen在1895中發現的。 他稱未知的光源導致他的電影曝光“X射線”並用手的X射線圖像發表了他的發現。
現在已知X射線是電磁輻射的一種形式，其頻率高於紫外線但低於γ射線。大多數X射線具有0.01至10奈米的波長，如圖1所示，頻率從低到高佈置。
文章四十八、回顧古今-X射線、X光譜學應用在科技產業的演變
X射線是由德國物理學家Wilhelm Rontgen在1895中發現的。 他稱未知的光源導致他的電影曝光“X射線”並用手的X射線圖像發表了他的發現。
現在已知X射線是電磁輻射的一種形式，其頻率高於紫外線但低於γ射線。大多數X射線具有0.01至10奈米的波長，如圖1所示，頻率從低到高佈置。
威廉·康拉德·倫琴在1901年獲得了第一個諾貝爾物理學獎。
X射線也可以定義為粒子（Photon），並使用能量單位eV進行描述。能量單位和波長單位是可互換的。因此，X射 線既是波浪又是粒子。 這 是理解X射 線某些特性的重要概念。X射線可以由電子或另一帶電粒子的偏轉的軔致輻射產生。在X射線管內部，電子被加速到目標材料。衝擊後，電子的動能轉移到X射線和熱量中。
伴隨著科技的進步，XRF檢測儀器也開始配合市場的需求，進行升級與功能完善，使其可以檢測更小單位的樣品，並且維持穩定的測量成果(再現性)。達到有效品管與把關的功能。
當今最主要的XRF系統可以概分為：兩種形式與三種準值器系統
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